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光学阴影测厚仪注意事项

发布时间:

2024-10-29

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光学阴影测厚仪是一种常用的测量工具，能够精准测量薄膜、涂层等材料的厚度。在使用光学阴影测厚仪时，需要注意一些事项，以确保测量结果的准确性。

光学阴影测厚仪是一种精密的仪器，测量时需要特别小心。首先，在使用之前要确保仪器处于稳定平台上，以防止不必要的震动对测量结果造成影响。其次，在测量过程中要保持仪器与被测物品的垂直接触，避免角度不正确导致误差。另外，操作人员在使用时要注意保持仪器镜片的清洁，灰尘或污渍会影响光学阴影的形成，影响测量结果准确性。
在测量薄膜厚度时，需要根据被测物品的特性选择合适的光源和参数设置，以确保测量精准。同时，在测量精度要求较高时，建议进行多次测量取平均值，提高测量结果的可靠性。
另外，在使用光学阴影测厚仪时，应避免长时间暴露在强光下，以免损坏仪器光学元件；另外，在测量过程中应注意避免操作误操作或碰撞，避免造成仪器损坏或数据失真。
总的来说，使用光学阴影测厚仪需要小心谨慎，严格按照操作说明进行操作，才能获得准确可靠的测量结果。

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