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光学阴影测厚仪的工作原理

发布时间:

2024-11-04

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光学阴影测厚仪是一种常用于测量薄膜厚度的仪器，其工作原理基于光学干涉现象。

光学阴影测厚仪是一种精密的测量仪器，常用于工业生产中对薄膜厚度进行精确测量。其工作原理基于光学干涉现象，利用光学系统中的干涉仪构造，通过测量反射或透射过程中产生的光学干涉图案，来确定薄膜的厚度。
在光学阴影测厚仪中，光源产生的光线会射向被测薄膜表面，并部分被反射。当光线与薄膜表面产生反射时，反射光与未反射光之间会产生干涉现象，形成光学阴影。通过测量这些干涉条纹的间距或颜色变化，就可以计算出薄膜的厚度。
通常，光学阴影测厚仪使用的是一束激光光源，以保证光线的单色性和方向性，从而提高测量的准确性。同时，仪器内部还配备了精密的图像处理系统，可以对干涉图案进行高精度的分析和处理，进一步提升测量精度和稳定性。
总的来说，光学阴影测厚仪作为一种高精度的测量仪器，在薄膜生产和研究领域发挥着重要作用，其工作原理深入浅出，让人们更加直观地了解薄膜厚度的测量原理。

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