Share to

新闻

公司动态

媒体报道

行业信息

首页

首页

红外干涉法测厚仪

发布时间:

2024-11-10

资料来源:

红外干涉法测厚仪是一种利用红外干涉原理来实现对材料厚度进行非接触测量的仪器设备。其原理简单、精准度高，广泛应用于涂层测量、薄膜厚度测量等领域。

红外干涉法测厚仪是一种通过检测被测材料表面反射的红外辐射光线，利用干涉原理测量材料厚度的仪器。其工作原理是通过测量反射红外光线的光程差来确定材料的厚度，具有高精度、非接触式的特点。这种技术可以应用于各种材料的厚度测量，尤其在涂层测量、薄膜厚度测量等方面表现出色。
红外干涉法测厚仪的使用非常便捷，只需将设备对准被测材料表面即可进行测量，操作简单方便。由于其测量精准度高，广泛应用于工业生产线上的质量控制和材料研发领域。通过该仪器可以快速准确地获取材料厚度数据，帮助用户提高生产效率和质量。
总的来说，红外干涉法测厚仪是一种高效、精准的材料厚度测量技术，为工业生产和科研提供了重要的支持。在未来的发展中，随着技术的不断进步和应用领域的扩大，红外干涉法测厚仪将继续发挥重要作用，为各行业带来更多便利和价值。

关键词:

推荐新闻

2023-02-28

2024-11-22

2024-11-19