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玻尔兹曼白光干涉法测厚仪：将实验室级光谱干涉技术应用于产线，分层解析纳米级涂层

发布时间:

2026-05-14

资料来源:

玻尔兹曼市场部

对透明或半透明薄膜进行纳米级分层测量，一直是行业的技术高地。玻尔兹曼白光干涉法测厚仪，将实验室级别的光谱干涉技术成功移植到工业在线检测，代表光学在线测量的最高水准。

系统基于宽光谱干涉原理，通过分析光在不同介质界面反射形成的干涉条纹，利用快速傅里叶变换（FFT）算法，精准解算出每一层介质的光学厚度。它可对精度要求极高的单层或多层材料进行非接触式、无损、分层测量，具备强大的多层解析能力，能同时分离出基材层与纳米级涂层的绝对厚度，为高端薄膜、光学膜、涂布等领域提供前所未有的检测手段。

从X射线到白光干涉，公司持续拓展精密测量边界，以自主技术践行“重新定义测厚仪”的承诺，为追求极致精度的制造商提供可靠方案，助力迈向智能制造新时代。