- 产品描述
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产品描述
我公司研发生产的 X 射线测厚仪,采用自主研发的核心部件,使测量的精度更高、稳定性更好、响应速度更快。
技术参数 测量探头间隙 10mm、20mm、30mm 测量范围 3um-5mm 静止分辨率 0.05um 动态测量精度 ±0.1um 或 ± 0.1% 测量响应速度 10ms 环境温度范围 0 - 50C ° 适用范围
PC/PMMA薄膜
无纺布
光学膜 铜/铝箔
CPP/CPE PI膜 PET薄膜
PVB膜
产品优势
探头:采用低能量的 X 射线,自主研发的核心部件,无辐射污染、环保豁免、寿命长。X 光束的能量可以通过调节加速电压来优化测量范围。
扫描架:O 型扫描架,采用钢板一体折弯而成,不易变形,全封闭式设计,有效防止粉尘进入测厚仪。
驱动:采用高精度伺服驱动电机,定位精度高,重复性好。闭环控制功能。
通讯:采用高速网络通讯,确保几台测厚仪的扫描路径完全一致。
差值算法:X 射线测厚仪不能使用简单的面密度差值算法,我公司采用专业 X 射线测厚仪的差值算法,精准的将净涂布量的面密度计算出来。
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