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X射线测厚仪
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X射线测厚仪


我公司研发生产的 X 射线测厚仪,采用自主研发的核心部件,使测量的精度更高、稳定性更好、响应速度更快。

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    我公司研发生产的 X 射线测厚仪,采用自主研发的核心部件,使测量的精度更高、稳定性更好、响应速度更快。

     

    技术参数
    测量探头间隙 10mm、20mm、30mm
    测量范围 3um-5mm
    静止分辨率 0.05um
    动态测量精度 ±0.1um 或 ± 0.1%
    测量响应速度 10ms
    环境温度范围 0 - 50C °

     

    适用范围

    PC/PMMA薄膜

    无纺布

    光学膜

    铜/铝箔

    CPP/CPE PI膜

    PET薄膜

    PVB膜

     

    产品优势

    探头:采用低能量的 X 射线,自主研发的核心部件,无辐射污染、环保豁免、寿命长。X 光束的能量可以通过调节加速电压来优化测量范围。

    扫描架:O 型扫描架,采用钢板一体折弯而成,不易变形,全封闭式设计,有效防止粉尘进入测厚仪。

    驱动:采用高精度伺服驱动电机,定位精度高,重复性好。闭环控制功能。

    通讯:采用高速网络通讯,确保几台测厚仪的扫描路径完全一致。

    差值算法:X 射线测厚仪不能使用简单的面密度差值算法,我公司采用专业 X 射线测厚仪的差值算法,精准的将净涂布量的面密度计算出来。

     

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