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离线测厚仪

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我司为您提供高精度，稳定可靠，快捷便利的离线测厚仪。

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X射线测厚仪

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我公司研发生产的 X 射线测厚仪，采用自主研发的核心部件，使测量的精度更高、稳定性更好、响应速度更快。

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红外吸收法测厚仪

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我司自主研发核心算法，配套自主研发探头，可应用于涂布生产线，可精准分层测量，为客户提供稳定可靠的红外测厚仪。

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白光干涉法测厚仪

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我公司最新研发生产的白光干涉法测厚仪，采用自主研发的测量探头，自主开发的软件算法，可分层测量出涂布的基材和涂层的厚度。

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