采用

关键词:

产品 新闻 下载

红外干涉法测厚仪


我公司最新研发生产的光学红外干涉法测厚仪,采用自主研发的测量探头,自主开发的软件算法,可分层测量出涂布的基材和涂层的厚度。

光学阴影测厚仪


我公司的光学阴影测厚仪具有测量精度高、稳定性好、响应速度快的特点。

X射线测厚仪


我公司研发生产的 X 射线测厚仪,采用自主研发的核心部件,使测量的精度更高、稳定性更好、响应速度更快。

如何选择一个适合你的?

让我们协助您!

我们的专家将尽快联系我们您,以满足您的需求。