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光学阴影测厚仪
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  • 光学阴影测厚仪

光学阴影测厚仪


我公司的光学阴影测厚仪具有测量精度高、稳定性好、响应速度快的特点。

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    我公司的光学阴影测厚仪具有测量精度高、稳定性好、响应速度快的特点。

     

    产品优势

    1.探头:采用先进的 CCD 探头,稳定、可靠、精度高。

    2.扫描架:U 型扫描架,采用钢板一体折弯而成,不易变形,全封闭式设计。

    3.通讯:采用 Ethercat 无延时实时网络通讯,信号采样周期 10ms,几台测厚仪做同点测量时,确保几台测厚仪的扫面路径完全一致。

    4.驱动:采用高精度伺服电机,定位精度高,重复性好,速度闭环控制功能。

    5.差值算法:采用先进的光学原理,响应速度达到 10ms,这种技术在两个对射式探头测厚的应用当中有非常大的优势,能实现完全的同点测量。

     

     

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