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产品描述
我公司最新研发生产的光学红外干涉法测厚仪，采用自主研发的测量探头，自主开发的软件算法，可分层测量出涂布的基材和涂层的厚度。
技术参数 测量精度 0.01um 测量范围 15nm-100um 静止分辨率 0.016um 动态测量精度 ± 0.1% 光点直径 φ100um 采样频率 10ms 环境温度范围 0 - 50℃ 适用范围
PI 膜 PET 薄膜 PE 收缩膜 PET 保护膜 产品优势
1.探头：采用自主研发的探头，稳定、可靠、精度高。
2.扫描架：采用钢板一体折弯而成，不易变形，全封闭式设计。
3.驱动：采用高精度伺服电机，定位精度高，重复性好，速度闭环控制功能。
4.通讯：采用 Ethercat 无延时实时网络通讯，信号采样周期 10ms，几台测厚仪做同点测量时，确保几台测厚仪的扫面路径完全一致。
5.差值算法：干涉测厚仪采用先进的 FFT 算法，响应速度达到 10ms。
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